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        當前位置: 首頁 > 元器件參數測試 > LCR測試儀詳細信息
        3504-60/ 3504-50/ 3504-40電容測試儀
        作者:admin    來源:原創    發布日期:2013-11-14 17:12:20   點擊次數:2427
        封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
        • 高速測量2ms
        • 能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷
        • 對應測試線,比較器功能/觸發輸出功能
        • 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
        • 3504-40記錄工具,實現高速/低成本的測試
        • 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率
        輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
        基本參數
        測量參數 Cs,Cp(電容),D(損耗系數tanδ)
        測量范圍 C:0.9400pF~20.0000mF
        D:0.00001~1.99000
        基本精度 (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
        ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E為各系數
        測量頻率 120Hz, 1kHz
        測量信號電平 恒定電壓模式: 100mV (僅限3504-60), 500 mV, 1 V
        測量范圍:
        CV 100mV:~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
        CV 500mV: ~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
        CV 1V: ~ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)
        輸出電阻 (CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時)
        顯示 發光二級管 (6位表示,滿量程計算器根據量程而定)
        測量時間 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
        ※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同
        功能 BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C拒絕功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(標配), GP-IB接口(3504-40除外)
        電源 AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大110VA
        體積及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
        附件 電源線×1,預備電源保險絲×1,使用說明書×1
        (不能單獨使用,測量時需要選用測試冶具或探頭)


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