當前位置: 首頁(yè) > 半導體測試系統詳細信息
700系列半導體開(kāi)關(guān)系統 |
作者:admin 來(lái)源:原創(chuàng ) 發(fā)布日期:2020-4-10 15:42:25 點(diǎn)擊次數:1990 |
半導體器件的高速和低電流要求高質(zhì)量、高性能的 I-V 和 C-V 信號開(kāi)關(guān)。我們?yōu)榘雽w研發(fā)和生產(chǎn)測試應用提供開(kāi)關(guān)解決方案,其中主機可以支持多達 2,880 個(gè)通道以及專(zhuān)為半導體應用而設計的一系列矩陣卡。 型號 說(shuō)明 708B 單槽半導體開(kāi)關(guān)矩陣,具有高達96個(gè)相交點(diǎn) 707B 六槽半導體開(kāi)關(guān)矩陣,具有高達576個(gè)相交點(diǎn)
技術(shù)資料下載 |
【關(guān)閉】 |