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        S500參數化測試系統
        作者:admin    來(lái)源:原創(chuàng )    發(fā)布日期:2020-4-10 9:33:29   點(diǎn)擊次數:1720

        S500 集成式測試系統 是高度可配置的、基于儀器的系統,適用于器件、晶片或暗盒級半導體檢定。S500 集成式測試系統基于我們經(jīng)過(guò)驗證的儀器,提供創(chuàng )新的測量功能和系統靈活性,并且根據您的需求可進(jìn)行擴展。獨有的測量能力結合強大而靈活的自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 軟件,提供廣泛應用和功能。 



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