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2461源表

作者：admin 來(lái)源：原創(chuàng ) 發(fā)布日期：2016-5-10 15:34:31 點(diǎn)擊次數:1865

溯源、測量、繪圖和分析功能觸手可及

讓 Touch, Test, Invent® 技術(shù)觸手可及。圖形用戶(hù)界面結合電容式觸摸屏，幫助您更快地學(xué)習、更智能地工作以及更輕松地發(fā)明創(chuàng )造。這些儀器適用于低功率應用，如檢定現代級半導體、納米級器件和材料、有機半導體以及物聯(lián)網(wǎng)設備，也適用于碳化硅 (SiC)、氮化鎵 (GaN)、直流-直流轉換器、電路保護元件、太陽(yáng)能電池和電池板、高亮度 LED 系統以及電化電池的高功率測試。

大電流脈沖SMU，單通道，100V，10A，測量分辨率（電流/電壓）1pA/100nA，1000W

特點(diǎn)	優(yōu)勢
集 I-V 系統、波形記錄器和半導體分析儀功能于一身	構建先進(jìn)的測試系統時(shí)，節省硬件成本
提供各種電流（1fA 至 10A）和電壓（10nV 至 200V）	您可以測試各種材料和設備，涵蓋低功率到高功率
測量速度高達 1Ms/s	您可以進(jìn)行測量以及根據需要捕捉要查看的信息
0.012％基本測量精度，具有 6½ 位分辨率	確保關(guān)鍵應用實(shí)現高測量完整性
五英寸高分辨率互動(dòng)式觸摸屏	幫助您快速熟悉儀器，并優(yōu)化了總體速度和效率
基于圖標的菜單結構，十分簡(jiǎn)單	配置測試所需的步數減少多達 50％，并且消除了繁瑣的多層菜單結構
完整的數據顯示、圖表繪制以及導出到電子表格	可以輕松地將原始數據轉化為有用信息
內置上下文相關(guān)前面板幫助	支持直觀(guān)操作，最大限度地減少查閱單獨手冊的需要
SCPI 和 TSP® 腳本編程模式	擴大編程靈活性
前面板 USB 存儲端口	簡(jiǎn)化了存儲測試結果和儀器配置、將測試腳本上傳到儀器、安裝系統升級以及截取屏幕的過(guò)程

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